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[单选题]
半导体电阻应变片在测量某一构件应变时，其电阻的相对变化主要是由()引起。
A.半导体电阻率的变化
B.半导体几何尺寸的变化;
C.贴片位置的温度变化
D.供桥电源的变化
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