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[单选题]
根据所测参数的类型，半导体分立器件测量仪器大致可分为（)。①直流参数测量仪器②交流参数测量仪器③极限参数测量仪器④晶体管特性图示仪
A.①②③④
B.①②④
C.①②③
D.②③④
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已知某仪器的测量极限误差δlim=±3δ=±0.003mm，用该仪器测量工件：
(1)如果测量一次，测得值为20.001mm，写出测量结果。
(2)要使测量结果的极限误差
不超过±0.001mm应重复测量多少次？
A.被测量定义不完整，被测量定义值的复现不完整，取样的代表性不够，对环境条件测量不完善，对模拟仪器读数的偏差，测量仪器分辨力、鉴别阈的限制，测量标准和标准量具的值不可靠，外部资料的数值、参数、常数不可靠，测量方法和程序中的近似和假设，在相同条件下，重复观测中被测量的变化
B.被测量定义不完整，被测量定义值的复现不完整，取样的代表性不够，对环境条件测量不完善，对模拟仪器读数的偏差，测量仪器分辨力、鉴别阈的限制，测量标准和标准量具的值不可靠，外部资料的数值、参数、常数可靠，测量方法和程序中的近似和假设，在相同条件下，重复观测中被测量的变化
C.被测量定义完整，被测量定义值的复现完整，取样的代表性不够，对环境条件测量不完善，对模拟仪器读数的偏差，测量仪器分辨力、鉴别阈的限制，测量标准和标准量具的值不可靠，外部资料的数值、参数、常数不可靠，测量方法和程序中的近似和假设，在相同条件下，重复观测中被测量的变化
D.被测量定义完整，被测量定义值的复现完整，取样的代表性不够，对环境条件测量不完善，对模拟仪器读数的偏差，测量仪器分辨力、鉴别阈的限制，测量标准和标准量具的值不可靠，外部资料的数值、参数、常数可靠，测量方法和程序中的近似和假设，在相同条件下，重复观测中被测量的变化
已知某仪器的测量极限误差δlim=±3σ=±0.0004mm，用该仪器测量工件：
①如果测量一次，测得值为10.365mm，写出测量结果。
②如果重复测量4次，测得值分别为10.367mm、10.368mm、10.367mm、10.366mm，写出测量结果。
③要使测量结果极限误差
不超过±0.001mm，应重复测量多少次？
