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题目内容（请给出正确答案）

[主观题]

测量系统分析中的偏倚（Bias）是指（）

A．同一测量者对同一个测量对象的同一位置多次测量结果的波动

B．不同测量者对同一个测量对象的同一位置多次测量结果的波动

C．同一测量者对同一个测量对象的同一位置多次测量结果的均值与基准值/标准值之差

D．以上结果都不正确

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第1题

在测量系统分析中，评价一个人使用一件测量设备，对同一零件的某一个特性进行多次测量下的变差，称为（）。

A.重复性

B.偏倚

C.稳定性

D.线性

E.再现性

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第2题

对同一个测量对象重复进行测量，不同观测者进行测量时测量结果的差异一般被称为（)。

A.测量系统的稳定

B.测量系统的重复性

C.测量系统的再现性

D.测量系统的线性

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第3题

在数字式测量系统分析中，测量人员间基本上无差异，但每次都要对初始状态进行设定，这时，再现性误差

是指：

A.被测对象不变，测量人员不变，各次独立重复测量结果之间的差异;

B.被测对象不变，在不同初始状态的设定下，各次测量结果之间的差异;

C.同一测量人员，对各个被测对象各测一次，测量结果之间的差异;

D.以上都不是。

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第4题

在计数型测量系统分析中，测量人员间基本上无差异，但每次都要对初始状态进存设定，这时，再现性误差是指（）

A.被测对象不变，测量人员不变，各次独立重复测量结果之间的差异

B.被测对象不变，在不同初始状态的设定下，各次测量结果之间的差异

C.同一测量人员，对各个被测对象各测一次，测量结果之间的差异

D.以上都不是

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第5题

复现性是现代仪表的重要性能指标之一。测量复现性是条件下，如不同的方法，不同的观测者，在不同的检测环境，对（)被检测的量进行多次检测时，其测量结果一致的程度

A.同一

B.不同

C.任一

D.随机

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第6题

某半导体芯片厂使用光电干涉法测厚仪测量芯片镀膜的厚度，公差限为100050A，生产过程实际标准差σ

（P）=15A。测量仪器是数字显示的，考虑可能造成测量系统波动的原因一是不同的测量时刻，二是每次将样件装置于测量底架时的装上卸下的循环。现选用一片芯片，在三个不同时刻各进行装上卸下的3次循环，每次循环重复测量2次，则此时的再现性是指（）

A．同一时刻同一循环的测量所得结果的一致性

B．同一时刻不同循环的测量所得结果的一致性

C．不同时刻不同循环的测量所得结果的一致性

D．不同时刻同一循环的测量所得结果的一致性

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第7题

测量复现性是在不同测量条件下，用（)，对同一被检测的量进行多次检测时，其测量结果一致的程度。

A.不同的方法

B.不同的仪器仪表

C.不同的观测者

D.在不同的检测环境

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第8题

某硫化工用同一支温度计，测量不同的硫化机表面温度，因测量者和所使用的温度计不变，所得到的测量精度相同，此种测量即为()测量。

某硫化工用同一支温度计，测量不同的硫化机表面温度，因测量者和所使用的温度计不变，所得到的测量精度相同，此种测量即为（)测量。

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第9题

信度指一个人在同一心理测量中几次测量结果的一致性。（)

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第10题

测量结果的重复性：在不同的测量条件下，对同一被测量进行连续多次测量所得结果之间的一致性。（)

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