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[主观题]

试证明:电导率为最小值时硅的霍尔系数 式中,,μn、μp分别为电子和空穴的迁移率,ni为本征载流子浓度(不考虑

试证明:电导率为最小值时硅的霍尔系数

试证明:电导率为最小值时硅的霍尔系数    式中,,μn、μp分别为电子和空穴的迁移率,ni为本征载

式中,试证明:电导率为最小值时硅的霍尔系数    式中,,μn、μp分别为电子和空穴的迁移率,ni为本征载,μn、μp分别为电子和空穴的迁移率,ni为本征载流子浓度(不考虑载流子的速度统计分布)。

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第1题
当半导体满足 ________ 条件时,该材料的霍尔系数为零。 ()

A.电子浓度 n= 空穴浓度 p

B.电子迁移率 μ n = 空穴迁移率 μ p

C.n 2 × μ n = p 2 × μ p

D.n × μ n 2 = p × μ p 2

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第2题
一块本征硅半导体,掺入五价元素砷,浓度为1014cm-3,试分别求出T=300K、500K时自由电子和空穴的热平衡浓度值,

一块本征硅半导体,掺入五价元素砷,浓度为1014cm-3,试分别求出T=300K、500K时自由电子和空穴的热平衡浓度值,并指出相应半导体类型。

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第3题
已知T=300K,硅的本征载流子浓度为ni=1.5×1010cm-3,硅PN结N区掺杂为ND=1.5×1016cm-3,P区掺杂为NA=
1.5×1018cm-3,求平衡时的势垒高度。

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第4题
试证明在两种载流子同时存在和弱磁场条件下的霍尔效应中,霍尔角θ和霍尔系数R可分别表示成 并求:

试证明在两种载流子同时存在和弱磁场条件下的霍尔效应中,霍尔角θ和霍尔系数R可分别表示成

并求:

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第5题
说明本征锗和硅中载流子迁移率随温度增加如何变化?
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第6题
在霍尔效应实验中,磁感应强度为0.40T.2.5mm厚的半导体样品中通有2.0mA的电流.测得霍尔电势差为6.5mV,试求载
流子的浓度并判断该样品是p型还是n型半导体.
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第7题
采用悬浮区熔提纯后的硅中基硼含量计算需要的参数包括______

A.P型硅电阻率

B.电子电荷

C.空穴迁移率

D.电子迁移率

E.N型硅电阻率

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第8题
若在每105个硅原子中掺杂一个施主原子,试计算在T=300K时自由电子和空穴热平衡浓度值,掺杂前后半导体的电导

若在每105个硅原子中掺杂一个施主原子,试计算在T=300K时自由电子和空穴热平衡浓度值,掺杂前后半导体的电导率之比。

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第9题
一块本征硅半导体,掺入五价元素砷,浓度为1014cm-3,试分别求出T=300 K、500 K时自由电子和空穴的热
平衡浓度值,并指出相应半导体类型。

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第10题
一棒状光电导体长I.截面积为s.设在光照下棒内均匀产生电子-空穴对数为Q/cm3·s,且电子迁
移率μn,>>μp。如果在棒两端加以电压V,试证光生电流(q=电子电量)。

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