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[多选题]

采用悬浮区熔提纯后的硅中基硼含量计算需要的参数包括______

A.P型硅电阻率

B.电子电荷

C.空穴迁移率

D.电子迁移率

E.N型硅电阻率

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第1题
晶体硅中的基硼含量检测是利用基硼含量与______的关系实现的()

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B.电阻率

C.空穴迁移率

D.电子电荷

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第2题
试计算本征硅在室温时的电阻率。设电子和空穴迁移率分别为1350cm2/(V·s)和500cm2/(V·s),当掺入百万分一的砷(

试计算本征硅在室温时的电阻率。设电子和空穴迁移率分别为1350cm2/(V·s)和500cm2/(V·s),当掺入百万分一的砷(As)后,设杂质全部电离,试计算其电导率比本征Si的电导率增大多少倍?

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第3题
有硅pn结,p区和n区的掺杂浓度分别为NA=9×1015cm-3和ND=2×1016cm-3;p区中的空穴和电子迁移率分别为350cm2/(V

有硅pn结,p区和n区的掺杂浓度分别为NA=9×1015cm-3和ND=2×1016cm-3;p区中的空穴和电子迁移率分别为350cm2/(V·s)和500cm2/(V·s),n区中空穴和电子迁移率分别为300cm2/(V·s)和900cm2/(V·s);设两区内非平衡载流子的寿命为lμs,pn结截面积为10-2cm2。当外加正向电压VF=0.65V时,

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第4题
试证明:电导率为最小值时硅的霍尔系数 式中,,μn、μp分别为电子和空穴的迁移率,ni为本征载流子浓度(不考虑

试证明:电导率为最小值时硅的霍尔系数

式中,,μn、μp分别为电子和空穴的迁移率,ni为本征载流子浓度(不考虑载流子的速度统计分布)。

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第5题
试求出在室温下本征硅的塞贝克系数。 设电子和空穴的有效质量相等,硅的禁带宽度为1.12eV,电子和空穴的迁移

试求出在室温下本征硅的塞贝克系数。

设电子和空穴的有效质量相等,硅的禁带宽度为1.12eV,电子和空穴的迁移率分别为0.135cm2/(V·s)和0.048cm2/(V·s)。

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第6题
经过多次真空区熔扫本底后的晶体,将成为一根无补偿的P型晶体,这样它的电阻率的高低就能代表原始硅多晶中的______含量

A.氧

B.基磷

C.基硼

D.碳

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第7题
由于在一般的半导体中电子和空穴的迁移率是不同的,所以在电子和空穴数目恰好相等的本征半导体中不显示最高

的电阻率.在这种情况下,最高的电阻率是本征半导体电阻率的多少倍?如果μn>μp,最高电阻率的半导体是N型还是P型?

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第8题
某一N型半导体电子浓度为1×1015cm-3,电子迁移率为1000cm2/(V.s),求其电阻率。

某一N型半导体电子浓度为1×1015cm-3,电子迁移率为1000cm2/(V.s),求其电阻率。

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第9题
MOS器件绝缘层中的可动电荷是()

A.电子;

B.空穴;

C.钠离子;

D.硅离子。

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第10题
InSb电子迁移率为7.8m2/(V·s),空穴的迁移率为780cm2/(V·s),本征载流子浓度为1.6×1016cm-3,求300K时

InSb电子迁移率为7.8m2/(V·s),空穴的迁移率为780cm2/(V·s),本征载流子浓度为1.6×1016cm-3,求300K时

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