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[主观题]
已知序列x(n)=anu(n),0<a<1。现在对它的Z变换在单位圆上进行N等分取样,取样值为,求有限长序列X(k)的IDFT。
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已知序列x(n)=anu(n),0<a<1。现在对其Z变换在单位圆上进行N等分取样,取样值为
求有限长序列X(k)的IDFT。
, k=0,1,2,3,4
求X(k)的逆离散傅里叶变换x1(n)。
已知序列x(n)=anu(n),0<a<1,对x(n)的Z变换X(z)在单位圆上等间隔采样N点,采样值为
, k=0,1,…,N-1
求有限长序列IDFT[X(k)]。
有限长序列的离散傅里叶变换相当于其Z变换在单位圆上的取样。例如10点序列x(n)的离散傅里叶变换相当于X(z)在单位圆的10个等分点上的取样,如图(a)所示。为求出如图(b)所示圆周上X(z)的等间隔取样,即X(z)在
各点上的取样,试指出如何修改x(n),才能得到序列x1(n),使其傅里叶变换相当于上述Z变换的取样。
对有限长序列x(n)={1,0,1,1,0,1}的Z变换X(z)在单位圆上进行5等份采样,得到采样值X(k),, k=0,1,2,3,4
试根据频率采样定理求X(k)的逆离散傅里叶变换x5(n)。
k=0,1,…,N-1 求有限长序列IDFT[X(k)]N
现有一序列
试在图上标出y(n)的8点DFT所在位置。