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[判断题]

复合和产生是一对相对立的变化过程,复合将使得一对电子和空穴消失,在半导体中产生和复合并非总是同时存在的。()

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第1题
在一块p型半导体中,有一种复合—产生中心,小注入时被这些中心俘获的电子发射回导带的过程和它与空穴复合的过

程有相同的概率。试求这种复合—产生中心的能级位置,并说明它能否成为有效的复合中心?

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第2题
一重掺杂n型半导体的平衡载流子浓度为n0和p0,恒定光照下,产生的电子—空穴对数为Q/cm3·s,复合系数为γ。今另加

一重掺杂n型半导体的平衡载流子浓度为n0和p0,恒定光照下,产生的电子—空穴对数为Q/cm3·s,复合系数为γ。今另加一闪光,产生附加光载流子的浓度为△n=△p(<<n0)。试证,闪光t秒后,样品内空穴浓度为

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第3题
温度一定时,自由电子和空穴的产生与复合将达到动态平衡,这时自由电子和空穴的浓度一定。()
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第4题
反向偏置情况下,除空穴扩散电流和电子扩散电流外,还有()。

A.势垒区的产生电流

B.势垒区的复合电流

C.产生电流

D.复合电流

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第5题
复合效应是指()。

A、将组分A、B两种材料复合起来,两者发生化学反应产生新材料的过程

B、将组分A、B两种材料复合起来,得到同时具有组分A和组分B的性能特征的综合效果

C、将组分A、B两种材料复合起来,两者发生物理反应产生新材料的过程

D、将组分A、B两种材料复合起来,两者发生物理、化学反应产生新材料的过程

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第6题
光照一个1Ω·cm的n型硅样品,均匀地产生非平衡载流子,电子—空穴对的产生率为1017cm-2·s-1。设样品的寿命为10μs

光照一个1Ω·cm的n型硅样品,均匀地产生非平衡载流子,电子—空穴对的产生率为1017cm-2·s-1。设样品的寿命为10μs,表面复合速度为100cm/s。试计算:

①单位时间在单位面积表面复合的空穴数。

②单位时间单位表面积下离表面三个扩散长度的体积内复合的空穴数。

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第7题
晶体三极管形成原理描述不正确的是()。

A.由于基区很薄,电子和空穴在基区复合的概率较低

B.到达基区的电子很容易穿过集电结

C.到达基区的空穴很容易穿过发射结

D.由于基区很薄,电子和空穴在基区复合的概率较高

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第8题
导带忠的电子和价带忠的空穴复合时主要以()释放能量。

A.辐射复合

B.俄歇复合

C.通过复合中心复合

D.以上三种都可以

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第9题
把磷化镓在氮气氛中退火,会有氮取代部分的磷,这会在磷化镓中出现()

A.改变禁带宽度

B.产生复合中心

C.产生空穴陷阱

D.产生等电子陷阱

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第10题
平衡状态下半导体中载流子浓度载流子的产生率等于复合率,而当时,载流子的复合率()产生率。

A.大于

B.等于

C.小于

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